ADC 使用¶
前言¶
AIO-3128C 开发板有一个 3 通道(0/1/2)、10 比特精度的 SAR ADC (Successive Approximation Register,逐次逼近寄存器),其中:
ADCIN0: 引到RECOVER位置,如下图片红框位置
ADCIN1: 内部作 Recovery 键检测
ADCIN2: 未引出来
本文主要介绍 ADC 的基本使用方法。
配置DTS节点¶
AIO-3128C ADC 的 DTS 节点在 kernel/arch/arm/boot/dts/rk312x.dtsi 文件中定义,如下所示:
adc: adc@2006c000 {compatible = "rockchip,saradc";
reg = <0x2006c000 0x100>;
interrupts = <GIC_SPI 17 IRQ_TYPE_LEVEL_HIGH>;
#io-channel-cells = <1>;
io-channel-ranges;
rockchip,adc-vref = <1800>;
clock-frequency = <1000000>;
clocks = <&clk_saradc>, <&clk_gates7 14>;
clock-names = "saradc", "pclk_saradc";
status = "disabled";
};
用户只需在 aio-3128c.dts 文件中添加通道定义,并将其 status 改为 “okay” 即可:
&adc {
status = "okay";
adc_test {status = "okay";
compatible = "rk-adc-test";
io-channels = <&adc 0>;
};
此处添加一个测试设备 adc_test,为下面的驱动测试例程所使用。
ADC 的驱动源码为 drivers/iio/adc/rockchip_adc.c
获取 ADC 通道¶
struct iio_channel *chan;chan = iio_channel_get(&pdev->dev, "adc0");
adc0 为通道名称,可用的通道列表在 rockchip_adc.c 中定义:
static const struct iio_chan_spec rk_adc_iio_channels[] = {
ADC_CHANNEL(0, "adc0"),ADC_CHANNEL(1, "adc1"),ADC_CHANNEL(2, "adc2"),ADC_CHANNEL(6, "adc6"),
};
读取 AD 采集到的原始数据¶
int val, ret;ret = iio_read_channel_raw(chan, &val);
调用 iio_read_channel_raw 函数读取 ADC 采集的原始数据并存入 val 中。
计算采集到的电压¶
使用标准电压将 AD 转换的值转换为用户所需要的电压值。其计算公式如下:
Vref / (2^n-1) = Vresult / raw
注: Vref 为标准电压 n 为 AD 转换的位数 Vresult 为用户所需要的采集电压 raw 为 AD 采集的原始数据 例如,标准电压为 1.8V,AD 采集位数为 10 位,AD 采集到的原始数据为 568,则:
Vresult = (1800mv * 568) / 1023;
驱动测试例程¶
以下为完整的读取 ADC 的驱动例程:
#include <linux/module.h>
#include <linux/err.h>
#include <linux/platform_device.h>
#include <linux/types.h>
#include <linux/adc.h>
#include <linux/string.h>
#include <linux/iio/iio.h>
#include <linux/iio/machine.h>
#include <linux/iio/driver.h>
#include <linux/iio/consumer.h>
struct iio_channel *adc_test_channel;
static ssize_t show_measure(struct device *dev, struct device_attribute *attr, char *buf){
int val, ret;
size_t count = 0;
ret = iio_read_channel_raw(adc_test_channel, &val);
if (ret < 0) {
count += sprintf(&buf[count], "read channel() error: %d\n", ret);
}
else
{
count += sprintf(&buf[count], "read channel(): %d\n", val);
}
return count;
}
static struct device_attribute measure_attr =__ATTR(measure, S_IRUGO, show_measure, NULL);
static int rk_adc_test_probe(struct platform_device *pdev)
{
struct iio_channel *channels;channels = iio_channel_get_all(&pdev->dev);
if (IS_ERR(channels)) {
pr_err("get adc channels fails\n");
goto err;
}
adc_test_channel = &channels[0];
if (device_create_file(&pdev->dev, &measure_attr)) {
pr_err("device create file failed\n");
goto err;
}
err:
return -1;
}
static int rk_adc_test_remove(struct platform_device *pdev) {
device_remove_file(&pdev->dev, &measure_attr);iio_channel_release(adc_test_channel);
adc_test_channel = NULL;return 0;
}
static const struct of_device_id rk_adc_test_match[] = {
{ .compatible = "rk-adc-test" },
{},
};
MODULE_DEVICE_TABLE(of, rk_adc_test_match);
static struct platform_driver rk_adc_test_driver = {
.probe = rk_adc_test_probe,
.remove = rk_adc_test_remove,
.driver = {
.name = "rk-adc-test",
.owner = THIS_MODULE,
.of_match_table = rk_adc_test_match,
}
};
module_platform_driver(rk_adc_test_driver);
将以上源码保存为 drivers/iio/adc/rockchip-adc-test.c ,并在 drivers/iio/adc/Makefile 后加入:
obj-$(CONFIG_ROCKCHIP_ADC) += rk_adc_test.o
编译并烧写内核和 resource.img,启动后即可在终端下运行以下命令来读取 ADC0 的值:
while true; do cat /sys/devices/2006c000.adc/adc_test.*/measure; sleep 1; done
注意,该例程并没有采用 iio_channel_get 来获取通道,而是调用 iio_channel_get_all, 读取 io-channels 属性所声明的通道列表,后取首个通道:
struct iio_channel *channels;channels = iio_channel_get_all(&pdev->dev);
if (IS_ERR(channels)) {
pr_err("get adc channels fails\n");
goto err;
}
adc_test_channel = &channels[0];
ADC 常用函数接口¶
struct iio_channel *iio_channel_get(struct device *dev, const char *consumer_channel);
功能:获取 iio 通道描述
参数:
dev: 使用该通道的设备描述指针
consumer_channel: 通道名称
void iio_channel_release(struct iio_channel *chan);
功能:释放 iio_channel_get 函数获取到的通道
参数:
chan:要被释放的通道描述指针
int iio_read_channel_raw(struct iio_channel *chan, int *val);
功能:读取 chan 通道 AD 采集的原始数据。
参数:
chan:要读取的采集通道指针
val:存放读取结果的指针